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IP:18.191.5.239
  • 學位論文

利用Digital Etch改善準垂直型溝槽式閘極氮化鎵金氧半場效電晶體特性之研究

Investigation on Characteristics of Quasi-Vertical Trench Gate GaN MOSFET Treated with Digital Etch

指導教授 : 黃智方

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GaN Quasi-Vertical MOSFET

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