奈米碳管(carbon nanotube, CNT)具有優異的電性,所以奈米碳管電晶體具有相當大的潛力應用於未來的奈米電子元件。在本研究中以本實驗室發展的SiO2/Ni構成的雙層催化劑結構為基礎,在二氧化矽基版上蒸鍍催化劑,再經由高溫化學氣相沉積(Thermal Chemical Vapor Depositon, Thermal CVD)的方式成長單壁奈米碳管,進一步製作成奈米碳管場效電晶體(CNT-FET)。此方法能有效的定位奈米碳管,並能由雙層催化劑的鍍率控制奈米碳管的密度、長度以及直徑。 在本研究中,採用波長分別為488 nm、632.8 nm、785 nm之激發源,量測背閘極奈米碳管場效電晶體之光電流。在背閘極元件量測上,需施加適當的閘極偏壓,減少電子堆積於Si/SiO2界面,避免出現photogating現象;所量測的元件對波長為632.8 nm之激發源轉換效率最佳,達到4.93×10-7,經量測碳管直徑後研判使用之激發源激發了碳管的第二激發態,且光電流大小與汲極偏和激發源強度成線性關係。 在懸空結構元件的製作上,採用先行製作蝕刻溝槽,並在電極上蒸鍍催化劑後,直接成長單壁奈米碳管於金屬電極上,成功跨長奈米碳管於深1 μm、寬8 μm的溝槽,完成懸空元件的結構。 在懸空元件電性量測上,懸空奈米碳管元件因閘極調變能力不佳,有效的避免了photogating效應;在光電流的量測上,懸空結構減少了SiO2基版捕捉碳管中的載子,轉換效率約為10-4,有效的增強了電信號之強度。