運用分工檢驗作業模式以提升產能---以IC測試為例

Using Division of Labor on Inspection to Improve Production Capacity---A Case of IC Testing

林玉卿(Yuh-Ching Lin)

指導教授 ： 朱詣尹

國立清華大學/工學院/工業工程與工程管理學系/碩士(2008年)

https://doi.org/10.6843/NTHU.2008.00151

摘要

自從1980年以後，我國的IC測試業隨著半導體產業蓬勃發展，也造就許多專業測試廠。隨著IDM業者更專注於核心價值提昇，屬非核心價值之封測業務委外趨勢更加明顯，所以測試廠的產值呈現正成長。隨著產能需求的增加，在有限的檢驗人力下，必須檢視運用分工於品質管制和品質保證，以達到檢驗效率提升及產出增加的績效。

本研究的目的即在探討分工檢驗的作業方式，即每批產品由一位檢驗員只檢驗產品的外觀，而另一位檢驗員檢驗產品的資料。探討此分工檢驗的作業方式，是否可以在有限的人力及產品品質的要求下，達到產品檢驗作業的產出速度加快及產能提升的目的。本研究以增加產出為目的找出系統的限制，再以消除浪費及損失極少化為主要的構思方向，設計出分工檢驗的作業方式以提升產能，最後以案例公司實際執行的結果來驗證分工檢驗的可行性。

本論文利用個案研究探討分工檢驗對產能、出錯率及生產力的影響。研究結果顯示，分工檢驗可以縮短總檢驗時間，即貨批的檢驗作業產出速度加快、產能提升，檢驗的出錯率下降。新進人員透過分工檢驗的實施，檢驗工作學習比舊有的未分工檢驗學習的進步程度高，且對產能的直接貢獻也提升的較快。最後，本研究分析出分工運於半導體業的檢驗及LCD模組業的生產組裝是具績效的，同時對流程改善與運作之成效及分工的優缺點作探討。

關鍵字

分工檢驗 ； 生產力 ； 產能

並列摘要

無資料

並列關鍵字

Division of Labor on Inspection ； Productivity ； Capacity

參考文獻

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