隨著ULSI技術快速發展,積體電路所要求的密集度越來越高,根據2006年ITRS(International Technology Roadmap for Semicinductors)的微影製程中,元件關鍵尺寸小於32奈米以下正在開發研究的技術包含EUV、沈浸法、奈米壓印或ML2等方式。奈米壓印微影技術具有製程溫度低、產出速度快、製程壓力低、成本低與製程簡單等特性。UV奈米壓印製程重點包含模仁製作、光阻材料、奈米壓印與蝕刻實驗之研究探討。 首先,為了降低成本,本論文使用HSQ/ITO/Glass取代傳統quartz製作UV模仁,成功以低劑量(360μC/cm2)電子束直寫技術,搭配顯影濃度(6%)、蝕刻時間(10s),使用步進式軟、硬烤方式使分別製作出width/space =1:10,線寬是70nmUV模仁。 UV奈米壓印實驗部份,以蒸鍍上脫膜劑(F13-TCS)的模仁,成功以室溫、壓印壓力595~870bar、壓印時間2~20分鐘將模仁上的圖形轉印在光阻(PAK-01-200)上,壓印後並使用波長300-370nm紫外光使其感光硬化,由SEM圖觀察轉印圖形變化,並從中挑選最佳壓印條件。 為完成Lift-off 技術之發展,接著本實驗選擇上述最佳壓印條件進行後續蝕刻實驗,並以SEM圖觀察蝕刻結果。最後為鋁蒸鍍實驗並完成lift-off製程,鋁奈米線線寬為140 nm與鋁線高度56 nm。