無線測試協定與介面之設計與實作

Design and Implementation of the Wireless Test Protocol and Interface

徐悅芝(Yue-Zhi Xu)

指導教授 ： 黃稚存

國立清華大學/電機資訊學院/積體電路設計產業研發碩士專班/碩士(2007年)

https://doi.org/10.6843/NTHU.2007.00657

摘要

隨著製程的演進，系統晶片越來越複雜。而製程的進步讓晶片的測試面臨挑戰，將會有更多的IO介面以及有更高的時間精準度的需求。然而依照目前傳統的測試方式，依靠擴增測試機台設備所需付出的成本甚鉅，因此有新的測試方法被提出 — HOY (使用無線測試的方式來解決未來測試所面臨的問題)。
無線測試被提出應用在現今的晶片製造，藉此可以取代在晶圓測試中，耗費許多成本的探測卡，並利用平行測試可以減少測試時間，提高測試產能。從接觸式的測試到無線傳輸測試需要有無線傳輸協定。因而我們提出了針對無線測試系統的測試傳輸協定，以及定義了一個標準化的測試介面。標準化的介面可以讓無線測試模組IP化，簡化因無線測試所需要的發展時間。我們所發展的測試介面目前已經成功運用在MBIST、MBISD、以及PLL BIST上。
最後，我們的系統整合在FPGA上做驗證及展示，透過我們展示團隊的合作，利用RF模組傳輸測試資料，展示了一個2x2 的平行測試系統。

關鍵字

無線測試 ； 測試介面 ； 無限測試協定

參考文獻

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