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學位論文
應用資料挖礦與影像辨識於晶圓圖相似度比對
Automatic Similarity Matching of Defect Patterns in Wafer Bin Map using Data Mining and Pattern Recognition Approach
陳薇如(Wei-Ju Chen)
指導教授 :
簡禎富
國立清華大學/工學院/工業工程與工程管理學系/碩士(2014年)
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建構半導體晶圓針測圖樣分類辨識模型
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建構彩色濾光膜及微透鏡缺陷樣型分析之資料挖礦架構
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Multi-source wafer map retrieval based on contrastive learning for root cause analysis in semiconductor manufacturing
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