淺地層剖面儀計量標準技術研究

Study on Measurement Standard Technology of Sub-Bottom Profiler

陳允約(Yun-Yue Chen) ； 倪文軍(Wen-Jun Ni) ； 曹玉芬(Yu-Fen Cao) ； 韓鴻勝(Hong-Sheng Han)

《先進工程學刊》 11卷1期 (2016/01) Pp. 25-28

摘要

淺地層剖面儀是一種能夠對水底淺地層進行穿透而分辨不同地層剖面的測量儀器，現已成為港口建設、通航工程等水運工程領域的關鍵設備。為了保證測量結果的準確性，提高工程質量，急需開展淺地層剖面儀計量標準技術研究。文章闡述了水深測量和垂直分辨力兩項技術指標的誤差原理，重點提出了這兩項指標的量值溯源方法，進而填補我國淺地層剖面儀計量檢定/校準技術領域的空白，最後分析了建立淺地層剖面儀計量標準的研究問題。

關鍵字

淺地層剖面儀 ； 計量標準 ； 垂直分辨力 ； 水深測量

並列摘要

As an instrument to measure stratigraphic section of water bottom, sub-bottom profiler has been a key tool in harbour construction, navigation engineering and other fields of water transport engineering. To ensure right measuring result and improve project quality, it is badly in need of studying the measurement standard. This paper expounds the measuring error of depth and vertical resolution, and especially gives the method of traceability of value on depth and vertical resolution. It analyzes some questions about establishing measurement standard in the end. The study will fill in the blanks of metrological technology in sub-bottom profiler.

並列關鍵字

sub-bottom profiler ； measurement standard ； vertical resolution ； depth measurement