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  • 期刊

外差干涉術在量測s與p偏光間相位差變化的應用

摘要


本論文是研究以電光調制器所調制出之外差光源,偵測各種系統所引入s與p偏光間相位差變化的應用;量測系統可分爲共光程與不共光程干涉儀兩類。根據所得到的相位差變化,作中心條紋定位,折射率,飛行高度等各種物理參數的量測。此技術具有光學結構簡單、可即時量測、不受光源穩定度與外界干擾的影響及具高相位解析度等的優點。

被引用紀錄


歐奕賢(2010)。光機電整合:雷射都卜勒干涉儀及其在微機電元件的應用〔碩士論文,淡江大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6846/TKU.2010.00264
李貴宇(2007)。波長調制外差式光柵干涉儀之研究〔碩士論文,國立中央大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0031-0207200917345171

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