本論文是研究以電光調制器所調制出之外差光源,偵測各種系統所引入s與p偏光間相位差變化的應用;量測系統可分爲共光程與不共光程干涉儀兩類。根據所得到的相位差變化,作中心條紋定位,折射率,飛行高度等各種物理參數的量測。此技術具有光學結構簡單、可即時量測、不受光源穩定度與外界干擾的影響及具高相位解析度等的優點。
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