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研究生: 謝知宏
Chia, Zhi Hong
論文名稱: 膠材楊氏模數及晶片與膠材厚度對晶片尺寸構裝模組在基板朝下的落下撞擊測試結構應力效應
Effects of Young’s modulus of molding compound and thicknesses of chip and molding compound on structural stress in a CSP module with substrate face down under the condition of drop test
指導教授: 盧威華
Lu, Wei-Hua
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 材料工程研究所
Graduate Institute of Materials Engineering
論文出版年: 2022
畢業學年度: 110
語文別: 中文
論文頁數: 114
中文關鍵詞: CSP構裝模組落下測試晶片厚度膠材厚度膠材性質
外文關鍵詞: CSP module, Drop test, Thickness of chip, Thickness of molding compound, Properties of molding compound
DOI URL: http://doi.org/10.6346/NPUST202200164
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  • 摘要 I
    Abstract II
    致謝 III
    目錄 IV
    表目錄 VIII
    圖目錄 IX
    第1章 緒論 1
    1.1前言 1
    1.2研究背景與文獻回顧 3
    1.3研究動機與目的 5
    第2章 基礎理論與儀器設備介紹 8
    2.1有限元素分析法簡介 8
    2.2材料破壞準則 9
    2.3彈塑性變形理論[26] 10
    2.3.1 降伏準則 11
    2.4衝擊理論 11
    2.5電腦輔助分析ANSYS軟體 12
    2.5.1 ANSYS簡介[29] 12
    2.5.2 ANSYS模擬分析程序 12
    2.6儀器設備介紹 14
    2.6.1 動態熱機械分析儀[30] 14
    2.6.2 金相顯微鏡 14
    2.6.3 自動雙盤研磨拋光機 15
    2.6.4 超高解析度熱場發射掃描式電子顯微鏡 15
    第3章 CSP構裝模組尺寸量測建立及膠材性質分析 20
    3.1 CSP構裝模組之尺寸量測及成份分析 20
    3.2 CSP構裝模組模型建立 21
    3.2.1 CSP構裝模組模型繪製 21
    3.2.2 各模型改變參數 22
    3.3 CSP構裝模組之材料參數 23
    3.4 CSP構裝模組於Ansys Workbench LS-Dyna之設定[31] 24
    3.5網格收斂分析 25
    第4章 CSP構裝模組改變晶片厚度之模擬分析 48
    4.1 CSP構裝模組改變晶片厚度之應力分析結果 48
    4.1.1 Model A-1 (原始模型) CSP構裝模組晶片厚度為660 m 48
    4.1.2 Model A-2 CSP構裝模組晶片厚度為495 m 49
    4.1.3 Model A-3 CSP構裝模組晶片厚度為330 m 49
    4.2 CSP構裝模組改變晶片厚度之應力分析結果 49
    第5章 填入教材後之CSP構裝模組與改變晶片厚度之應力分析結果 58
    5.1 CSP構裝模組改變晶片厚度之應力分析結果 58
    5.2填入膠材後之CSP構裝模組改變晶片厚度之應力分析結果 59
    5.2.1 Model B-1 填入膠材後之CSP構裝模組晶片厚度 660 μm(原始厚度) 59
    5.2.2 Model B-2 填入膠材後之CSP構裝模組晶片厚度 495 μm 59
    5.2.3 Model B-3 填入膠材後之CSP構裝模組晶片厚度 330 μm 59
    5.3 原始模型未填入膠材與填入膠材後改變晶片厚度之應力分析 結果比較 60
    第6章 改變晶片上膠材厚度及膠材楊氏模數與最佳化參數應力分析 69
    6.1 CSP構裝模組改變晶片厚度之應力分析結果 69
    6.1.1 Model C-1填入膠材後之CSP構裝模組晶片上方膠材厚度 150 μm之應力分析結果 69
    6.1.2 Model C-2填入膠材後之CSP構裝模組晶片上方膠材厚度 225 μm之應力分析結果 69
    6.1.3 Model C-3填入膠材後之CSP構裝模組晶片上方膠材厚度 300 μm (原始尺寸)之應力分析結果 70
    6.1.4 Model C-4填入膠材後之CSP構裝模組晶片上方膠材厚度 375 μm之應力分析結果 70
    6.2原始模型未填入膠材與填入膠材後改變晶片上方膠材厚度之應力 分析結果比較 70
    6.3填入膠材後之CSP構裝模組改變膠材楊氏模數之應力 分析結果 71
    6.3.1 Model D-1填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 1714.9 MPa之應力分析結果 71
    6.3.2 Model D-2填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 2572.3 MPa之應力分析結果 72
    6.3.3 Model D-3填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 3429.8 MPa (原始膠材楊氏模數)之應力分析結果 72
    6.3.4 Model D-4填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 4287.3 MPa之應力分析結果 72
    6.3.5 Model D-5填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 15000 MPa之應力分析結果 73
    6.3.6 Model D-6填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 20000 MPa之應力分析結果 73
    6.3.7 Model D-7填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 22000 MPa之應力分析結果 73
    6.3.8 Model D-8填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 25000 MPa之應力分析結果 73
    6.3.9 Model D-9填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 30000 MPa之應力分析結果 74
    6.3.10 Model D-10填入膠材後之CSP構裝模組膠材楊氏模數 40000 MPa之應力分析結果 74
    6.4原始模型未填入膠材與填入膠材後改變膠材楊氏模數之應力分析 結果比較 74
    6.5 CSP構裝模組之最佳化參數應力分析結果 76
    6.5.1 Model E-1最佳化參數(改變晶片厚度330 μm、晶片上方膠材 厚度150 μm及膠材楊氏模數25000 MPa)之應力分析結果 76
    6.6原始模型未填入膠材與最佳化參數(改變晶片厚度330 μm、晶片 上方膠材厚度150 μm及膠材楊氏模數25000 MPa)之應力分析 結果比較 76
    第7章 結論 111
    參考文獻 112

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