量測材料的介電特性在各行各業中一直是一個很重要的議題,舉凡電子、通訊、導航、食品、醫藥、傳統工業等,均須使用介電質,應用介電質當然不可避免要得到介電質的特性,以妥善利用與設計所需元件。 本論文以TE01模式反射法於32GHz ~ 40GHz頻段下量測材料介電特性。理論上,利用TE01模式的特性,將量測系統簡化為均勻波導管中,一端封閉,並於封閉端平整地塞入欲量測的樣品,再以單一模式(TE01)分析此系統,來得到樣品的介電特性。 實驗上,量測鐵氟龍(Teflon)的介電特性,本法在實驗量測上與模擬的結果差不多,在介電係數的量測上均有4 ~ 5%的誤差率;而介電損耗則因選擇的樣品損耗太小,無法得到較精確的數值。 量測介電質的方法有很多,此法相較於其他方法,具有樣品製備容易、實驗架構簡單的優點。