LED是近年來發展快速的研究課題之一,許多文獻引用Shockley方程式來描述LED內部p-n junction處之電流-電壓變化,但由於Multiple Quantum Well結構之LED出現,導致Shockley方程式可能已經不再適用於當今之LED。 本文參考其他文獻之實驗數據與適用於具有多重量子井結構之LED的Diode方程式,並將其應用至LED模型內進行數值模擬。藉由數值模擬,可以得到LED內部之電位分佈與溫度分佈,溫度、電壓、總功率和發光效率之間的關係。 根據本文之研究,可以得到在不同電壓與冷卻裝置下對同一顆LED晶片的模擬結果,之後只要改變材料參數即可對大量商用的LED進行模擬,除了可以減少對LED測試的成本外,也可以經由分析出的答案找出最符合經濟價值的LED,在本文的研究中發現冷卻裝置的強弱,在一開始的時候其效果十分顯著,當其冷卻裝置越來越強,反而對整個LED的影響並不是非常劇烈,而輸入電壓的大小對功率和發光效率的變化比較劇烈。一般來說,如果在同一個電壓下想增加其發光效率,那就要設法加強LED的冷卻裝置,但是,總功率卻會隨著冷卻裝置的加強而變小,而且在較強的冷卻裝置下在加強其冷卻效果,其效果不彰,因此要在這裡面做選擇。