隨著薄膜電晶體液晶顯示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display, TFT-LCD)逐漸往大尺寸化及輕薄化的趨勢發展,顯示器中玻璃基板對顯示器整體的重量和厚度有極大的影響。顯示器中常用的薄型玻璃基板,經過成型的步驟,不可避免的將於玻璃基板內部產生殘餘應力,殘餘應力的大小將決定玻璃基板翹曲的程度,進而影響顯示器的成像品質。玻璃基板的輕薄化使得玻璃材料原本的雙折射性降低,因而玻璃基板內殘餘應力不易以傳統的光彈法量測。本研究結合光譜儀及光彈法針對量化玻璃基板內殘餘應力的可行性進行探討,但由於薄型玻璃基板不易夾持,因此先觀察PSM-1光彈材料試片在拉伸過程之光譜變化趨勢,並使用不同單色光為檢測光源及三步相位移光彈法嘗試分析光譜圖隨應力的變化趨勢,以觀察應力光學係數和材料條紋值的變化狀態。另一方面,使用單色光及白光為檢測PSM-1光彈材料之光源,以建立應力判斷公式,將此公式與實驗值相比較,證實判斷公式的準確性,未來可提供量化玻璃基板內殘餘應力的重要參考。