光學顯微術在二維材料及化學物質上之分析檢驗

Optical Microscopic Examination in Two Dimensional and Chemical Materials

李聿揚(Yu-Yang Lee)

《化學》 75卷2期 (2017/06) Pp. 155-167

https://doi.org/10.6623/chem.2017016

摘要

在次微米尺度下，光學顯微術是一種快速且低破壞的檢測方式，具有非侵入性且樣品只需極少的前處理就可以進行檢測。因此，在特定材料領域，如能找到一個好的方式來應用光學顯微術，則可以加速該材料的發展及應用。文章中，我們將從基本的光學顯微術開始談起，到拉曼光譜及光致發光，而最後是尖端的超解析應用。希望透過這個開頭，讓讀者們試著思考這些光學顯微術在各領域內可應用的位置，期待擦出不同的火花。畢竟我們身處資訊爆炸的21世紀，在跨領域的交流中我們隨時可能種下創新的小小種子，孕育能量帶動台灣的進步。

關鍵字

光學顯微術 ； 光致發光 ； 時間解析光致發光 ； 拉曼光譜 ； 超解析顯微術

並列摘要

Optical microscopic inspection is a fast, direct and low damage method to examine micron to sub-micron samples. Not only it has non-invasive characteristic, but also the samples are barely needed preprocessing. Hence, once we could link an optical inspection to defect detection or quality verification of certain material, it would accelerate the development of the material. In this article, we start with fundamental theory of optical microscope to microscopic photo luminescence and Raman spectroscopy and then the cutting-edge super-resolution microscopy techniques. We hope this could be a spark of inspiration to start thinking their location in your field of knowledge. After all, cross-domain linkage is one of the most innovative procedures in 21st century.

並列關鍵字

Optical microscopy ； Photo luminescence ； Time-resolved photo luminescence ； Raman spectroscopy ； Super-resolution microscopy