並列摘要
A testing scheme for a liquid-crystal-display is proposed. The CUT (circuit under testing) is modified for DFT (design for testing). The time and cost for testing are greatly reduced; however, the driving ability is not reduced.
被引用紀錄
邱姝萍（2014）。薄膜液晶顯示器玻璃基板與液晶處理技術之研究〔碩士論文，國立臺北科技大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6841/NTUT.2014.00052
劉韋宏（2007）。液晶顯示器用之時序控制晶片設計與製作〔碩士論文，國立臺北科技大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6841/NTUT.2007.00215
黃鉉喨（2017）。廢棄物管理之生命週期評估-以在BoP市場販售二手手機為例〔碩士論文，朝陽科技大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0078-2712201714432840