- 學位論文
半導體測試產出之巨量晶圓資料處理程式效能優化的真實案例研究
A Case Study on Improving Performance of a Big Wafer Testing Data Processing Service
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延伸閱讀
- 吳賢逸、王宜明（2011）。半導體晶圓真空壓模設備預貼模組之模態分析與驗證。載於中華民國振動與噪音工程學會（主編），中華民國振動與噪音工程學會論文集（頁6-11）。中華民國振動與噪音工程學會。https://doi.org/10.30028/CSSVANNUAL.201106.0006
- 呂麗香（2006）。以規模經濟的觀點探討半導體晶圓廠產能規劃之研究:一個以系統模擬為基礎的方法〔碩士論文，國立中央大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0031-0207200917340141
- Chuang, M. H. (2010). 考量半導體製程能力限制下之晶圓圖隨機性辨識法及應用 [master's thesis, National Chiao Tung University]. Airiti Library. https://doi.org/10.6842/NCTU.2010.00250
- 蕭瑞祥、鄭哲斌、邱仲麟（2018）。A Study of Software Quality Testing for Software as a Service。資訊管理學報，25(4)，447-474。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=16085752-201810-201911110008-201911110008-447-474
- 邱仲麟（2014）。A Study of Software Quality Testing for Software as a Service〔碩士論文，淡江大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6846/TKU.2014.00737