本論文利用平面式微波輔助化學氣相沉積系統(Microwave plasma enhanced chemical vapor deposition),以Si(100)為基板成長a-SiC:H奈米針狀結構。並以SEM、Raman、TEM、XPS、FTIR及AES分析其微結構和化學鍵結。控制適當偏壓、氣壓以及CH4:H2流速比例,從不同製程時間探討孕核及成長,並確立a-SiC:H奈米針狀結構形成的機制有三步驟:(一) CH4:H2電漿與Si基材反應成非晶SiC核;(二) CH4:H2電漿選擇性轟擊未成核的Si基板;(三) CH4:H2電漿與針狀結構作用形成SiC鍵結的外層。 當製程時間增加,非晶形碳化矽奈米針的長度因為轟擊效應而增加。隨著CH4:H2流速比例提高,非晶形碳化矽奈米針的分布密度因為反應成核數量提高而增加。 將奈米針經過不同溫度的真空退火,得知非晶形碳化矽奈米針狀結構產生含多晶3C-SiC的針狀結構。隨著退火溫度的增加,含多晶3C-SiC的針狀結構中SiC鍵結的FTIR訊號強度越高,表示其結晶性越好。