本研究以SOI晶片為基礎,透過一般型態之電容式平面加速度計為例,探討加速度計元件之設計考量參數,並透過元件設計模擬、製程開發,研製出平面加速度計。並透過量測系統的建置,量測平面加速度計之基本元件特性。從此基礎進而發展新型態透過SOI晶片為基礎,研製以差分電容感測電極之出平面加速度計,其中感測電極以氣密閉合架構提高元件靈敏度,並初步驗證出平面加速度計之可行性。此出平面具有:(1)質量塊包含SOI晶片之元件層以及處理層;(2)量測之靈敏度因為氣密閉合的差分電極感測而增加;(3)透過金屬連接SOI晶片元件層以及處理層的電性;(4)感測電極間距由SOI晶片中的氧化層決定。並透過出平面加速度計之設計概念,進一步設計出單一質量塊三軸加速度計,其中三軸感測方向之電極,皆以氣密閉合差分電容感測電極架構來達成。三軸加速度計除了前述出平面加速度計之特向外,具有:(1)透過多晶矽回填技術連接SOI晶片元件層以及處理層的電性;(2)三軸感測方向皆是以氣密閉合之差分電容電極為架構,且透過單一質量塊感測三軸方向之設計。最後,製程設計具有批量製造之能力,並初步驗證三軸加速度計之可行性。