以布林運算為基礎之工作站異常探勘及診斷系統之研究

A Workstation Abnormal Mining and Diagnostic System Based on Boolean Algebra Computing Technology

鄭益騏(I-Chi Cheng)

指導教授 ： 吳杉堯

國立高雄應用科技大學/工學院/工業工程與管理系/碩士(2010年)

摘要

半導體封裝及測試業之製造過程相當複雜繁瑣，發現異常或良率下降時，必須立即找出有問題之工作站使其恢復原有的量產水準。本研究提出以布林運算為基礎之工作站異常探勘及診斷系統，使人員可以快速地切入提升良率之要點，不需再冗長分析及探究。研究結果顯示，本系統可以大幅提升快速診斷及反應之能力，對異常探勘與診斷效率有顯著之改善，並經由個案實證中清楚地呈現快速解決問題之能力，且可提升個案公司之良率及競爭力。

關鍵字

半導體封裝 ； 資料探勘 ； 異常診斷與分析 ； 電腦整合製造 ； 布林代數

並列摘要

In semiconductor packaging and testing industry, the manufacturing process is considerably complicated. When there is occurrence of the deviation or dropping in good yield, must quickly identify the processing station which induces the abnormality in the assembly process. Then, resolve the issue and restore output volume to the normal production level. This study applies "Boolean Operation" as a fundamental system to explore and diagnosis the abnormality at processing station. So that staff can quickly lead into the key element related to increase the yields rate. As a result, no extensive analysis is required. Results of the study show that the system greatly enhances the ability of rapid diagnosis and response. Also significantly improve the efficiency of exploration and diagnostic of abnormality. As the evidences shown in the study, the technique clearly indicate the solving capability, furthermore, enhance the good yield and competitiveness of the company in the industry.

並列關鍵字

Semiconductor Package ； Data Mining ； Abnormal Diagnostic and Analysis ； Computer Integrated Manufacturing ； CIM ； Boolean

參考文獻

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