磁力顯微儀量測鐵鎳合金薄膜磁區之研究

A Study of Magnetic Domains Structure of Fe-Ni-alloy thin films by Magnetic Force Microscopy

黃靖雯(Ching-Wen Huang)

指導教授 ： 呂助增 博士

國立清華大學/理學院/物理學系/碩士(2007年)

https://doi.org/10.6843/NTHU.2007.00241

摘要

目前微磁學為一門重要的研究領域，磁力顯微儀(MFM)具有高解析度(約為10~100nm)可觀測磁性材料上細微的磁區分布且操作容易，樣品不需要經過特殊處理，並且可以適用於各種環境。因此已取代其他儀器成為磁性材料研究中重要儀器。
本論文是研究鐵鎳合金薄膜表面的磁區結構。樣品的沉積方式是利用磁控濺鍍系統於矽基板上沉積鐵鎳合金薄膜，用磁力顯微儀觀察樣品的磁區結構，利用SQUID量測磁場分別垂直膜面和平行膜面之磁滯曲線；在對不同厚度的樣品加垂直膜面磁場，同樣地，利用磁力顯微儀觀察不同磁場值下的磁區結構，量測該磁區寬度變化。

關鍵字

鐵鎳合金 ； 磁區

參考文獻

[6] C.Kittel “Introduction to Solid State Physics Ch15”

[7] C.Kittel “Theory of the structure ferromagnetic domains in films and small particles”, Phys.Pev.70,965(1946)

[15] L.F. Yin , D.H. Wei , N. Lei ,et al. “Magnetocrystalline Anisotropy in Permalloy Revisited” Phys. Rev. Lett. 97, 067203 (2006)

[18] L.F. Yin , D.H. Wei , N. Lei ,et al. “Magnetocrystalline Anisotropy in Permalloy Revisited” Phys. Rev. Lett. 97, 067203 (2006)

[19] D. Ravelosona , A. Cebollada , F. Briones ,et al. “Domain-wall scattering in epitaxial FePd ordered alloy films with perpendicular magnetic anisotropy” Phys. Rev. B 59, 4322 (1999)