本文主是要是討論以MOCVD技術成長Ⅱ-Ⅵ族半導體CdSe/ZnSe量子點,並利用光致激發光譜(PL)研究其光學性質。根據實驗結果再次證明,只要能找到適當的參數即可成長出具有高發光效率的量子點,其峰值位置相對CdSe塊材藍移了約620 meV,顯示出很強的量子侷限效應 。 籍由長晶的時間可以控制量子點的尺寸大小,並由光致激發光譜得知,越小的量子點具有較高的峰值位置與較強的激子束縛能,其束縛能相較於CdSe塊材增加達六倍之多。 在尋找適當的成長參數時,我們發現包覆層厚度的增加將使量子點的峰值位置略為藍移。以10秒和15秒中斷時間製做出的量子點(其他條件相同),其PL光譜差異極大,顯然對量子點的成長有重大的影響,這是個很有趣的現象,值得進一步的研究。 在變溫PL光譜實驗中,半高寬的變化先減小後上升,變化幅度不小,此乃量子點系統迥異於量子井系統的一大特徵。 最後,我們以原子力顯微鏡觀察量子點系統的表面形態。